高壓加速老化試驗箱用 途：

主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCT主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

特 點：

◆ 真空泵浦設計(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；

◆ 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉300小時；

◆ 干燥設計，試驗終止采真空干燥設計確保測試區(qū)(待測品)的干燥；

◆ 水位保護，透過爐內(nèi)水位Sensor檢知保護；

◆ 耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k；

◆ 二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置；

◆ 安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕；

高壓加速老化試驗箱技術規(guī)格：

高壓加速老化試驗箱是一種專門用于模擬高壓環(huán)境下產(chǎn)品老化過程的設備。通過控制試驗箱內(nèi)的溫度和壓力，它可以快速模擬產(chǎn)品在長期使用過程中可能遇到的惡劣環(huán)境，如高溫、高壓、高濕度等。在這樣的環(huán)境下，產(chǎn)品內(nèi)部的材料結構和性能會發(fā)生變化，從而加速其老化過程。通過觀察和分析這些變化，我們可以評估產(chǎn)品的耐用性和可靠性，為產(chǎn)品設計和改進提供有力支持。

高壓加速老化試驗箱的工作原理主要基于物理學和化學的基本原理。在高壓環(huán)境下，產(chǎn)品內(nèi)部的分子結構和化學鍵可能發(fā)生變化，導致材料的物理和化學性質發(fā)生改變。這些變化會直接影響產(chǎn)品的性能和壽命。試驗箱通過精確控制溫度和壓力，模擬出這些變化過程，從而實現(xiàn)對產(chǎn)品老化過程的加速模擬。

在實際應用中，高壓加速老化試驗箱廣泛應用于電子、汽車、化工等各個領域。在電子領域，它可以幫助我們評估電子產(chǎn)品在不同環(huán)境下環(huán)境下的性能穩(wěn)定性和壽命；在汽車領域，它可以用于測試汽車零部件在高溫高壓下的耐久性和可靠性；在化工領域，它則可以用于研究材料在不同環(huán)境下的老化機理和性能變化。

值得一提的是，高壓加速老化試驗箱的使用并非一勞永逸。在測試過程中，我們需要根據(jù)產(chǎn)品的特性和測試需求，合理設置試驗參數(shù)，確保測試結果的準確性和可靠性。同時，我們還需要對測試數(shù)據(jù)進行深入分析，找出產(chǎn)品老化的規(guī)律和原因，為產(chǎn)品設計和改進提供有針對性的建議。